Кристалічний аналіз за допомогою рентгенівської директометрії (XRD) - Завантажити PDF безкоштовно

Кристалічний аналіз за допомогою рентгенівської директометрії (СРД) Сюзанна Шрайер 14 квітня 2016 р. 1 Мотивація Для того, щоб мати можливість неруйнівно досліджувати кристали, використовується рентгенівська директометрія (XRD Diraction XRD). Серед іншого, він надає інформацію про фазу удару, структуру кристала або щільність його дислокації. Крім того, також можна перевірити натяг або текстуру матеріалу. Рентгенівська директометрія особливо важлива при дослідженні тонких шарів та визначенні товщини шарів у тонкошарових системах. Зміст 1 Мотивація 1 2 Основи 2 2.1 Індекси Міллера. 2 2.2 Взаємодія випромінювання з речовиною. 2 2.3 Стан Брегга. 3 3 Вимірювальний пристрій 3 3.1 Рентгенівська трубка. 3 3.2 Шлях променя. 4 3.3 Детектор. 4 3.4 Гоніометр. 5 4 Фазовий аналіз 6 5 Інтенсивність дифракційних піків 7 6 Дислокації 7 6.1 Ступінчаста дислокація. 8 6.2 Вивих гвинта. 8 6.3 Крива коливання. 8 7 Дослідження на тонких шарах 9 7.1 GIXRD. 9 7.2 XRR. 10 8 Список джерел 10 1